Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

A new intrinsic defect in amorphous SiO2: Twofold coordinated silicon

  • L. N. Skuja*
  • , A. N. Streletsky
  • , A. B. Pakovich
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • N.N. Semenov Federal Research Center for Chemical Physics, Russian Academy of Sciences

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

340 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

The well known optical absorption band at 5.03 eV (the "B2 band") and luminescence band at 4.3 eV in amorphous SiO2 are due to singlet-to-singlet transitions, while the luminescence band at 2.65 eV - due to triplet-to-singlet transitions in a silicon-related intrinsic defect. This defect occurs both in the bulk and on the surface. Luminescence polarization data indicate C2v symmetry. The most probable model for this center is a silicon atom with only two neighboring oxygens. Such defects form a separate class of valence alternation defects, characteristic for amorphous materials having atoms in tetrahedral coordination.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)1069-1072
Lapu skaits4
ŽurnālsSolid State Communications
Sējums50
Izdevuma numurs12
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - jūn. 1984

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “A new intrinsic defect in amorphous SiO2: Twofold coordinated silicon”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo