Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Ab initio study of the diffusion barriers for iron and chromium impurities in silicon

  • S. Zh Karazhanov*
  • , M. V. Syre
  • , B. R. Olaisen
  • , A. O. Holt
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Institute for Energy Technology

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

4 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

This work presents a theoretical study of iron and chromium impurities located at substitutional site and their complex with a vacancy by the density functional theory. Diffusion barriers separating the recombination centers such as the Fei-V(Cri-V) and FeSi(CrSi) has been studied by the nudged elastic band method for positively charged and neutral states of these defects. We found that the barrier heights separating FeSi(CrSi) from interstitials are ≥1.0 eV, which complicates transition of the substitutional impurities to interstitial sites.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)23-27
Lapu skaits5
ŽurnālsEnergy Procedia
Sējums8
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 2011
Ārēji publicēts

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Ab initio study of the diffusion barriers for iron and chromium impurities in silicon”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo