An exploratory study of software evolution and quality : before, during and after a transfer

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumā › Konferences zinātniskais raksts › Pētniecība › koleģiāli recenzēts

14 Atsauces (Scopus)

Oriģinālvaloda	Angļu
Rīkotāja publikācijas nosaukums	Seventh IEEE International Conference on Global Software Engineering (ICGSEW 2012), Porto Alegre, Brasil, August 27-30, 2012.
Publikācijas vieta	[S.l.]
Izdevējs	IEEE
Lapas	41-50
ISBN (Drukātā versija)	9781467323574
DOIs	https://doi.org/10.1109/ICGSE.2012.30
Publikācijas statuss	Publicēts - 2011

OECD Zinātnes nozare

@inproceedings{5206cd48ac154e39a89af689d1fc637b,

title = "An exploratory study of software evolution and quality : before, during and after a transfer",

author = "Darja {\v S}mite and R. Jabangwe",

year = "2011",

doi = "10.1109/ICGSE.2012.30",

language = "English",

isbn = "9781467323574",

pages = "41--50",

booktitle = "Seventh IEEE International Conference on Global Software Engineering (ICGSEW 2012), Porto Alegre, Brasil, August 27-30, 2012.",

publisher = "IEEE",

}

An exploratory study of software evolution and quality : before, during and after a transfer. / Šmite, Darja; Jabangwe, R.
Seventh IEEE International Conference on Global Software Engineering (ICGSEW 2012), Porto Alegre, Brasil, August 27-30, 2012.. [S.l.]: IEEE, 2011. lpp. 41-50.

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumā › Konferences zinātniskais raksts › Pētniecība › koleģiāli recenzēts

TY - GEN

T1 - An exploratory study of software evolution and quality : before, during and after a transfer

AU - Šmite, Darja

AU - Jabangwe, R.

PY - 2011

Y1 - 2011

UR - http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6337396

U2 - 10.1109/ICGSE.2012.30

DO - 10.1109/ICGSE.2012.30

M3 - Conference paper

SN - 9781467323574

SP - 41

EP - 50

BT - Seventh IEEE International Conference on Global Software Engineering (ICGSEW 2012), Porto Alegre, Brasil, August 27-30, 2012.

PB - IEEE

CY - [S.l.]

ER -