Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Characterization of domain structure and domain wall kinetics in lead-free Sr2+ doped K0.5Na0.5NbO3 piezoelectric ceramics by piezoresponse force microscopy

  • A. P. Turygin*
  • , D. O. Alikin
  • , A. S. Abramov
  • , J. Hreščak
  • , J. Walker
  • , A. Bencan
  • , T. Rojac
  • , B. Malic
  • , A. L. Kholkin
  • , V. Ya Shur
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Ural Federal University
  • J. Stefan Institute
  • Pennsylvania State University
  • University of Aveiro

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

12 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

The domain structure and local polarization reversal were studied in lead-free ceramics (K0.5Na0.5)1-2xSrxNbO3 by various modes of scanning probe microscopy. It was shown that the increase in Sr concentration led to a decrease in both grain and domain sizes. The local polarization reversal study provided important information on the domain wall dynamics in this complicated system. The defect distribution in doped ceramics was proposed as a major factor limiting domain wall mobility and internal bias field decrease together with the increase of the activation field for domain wall motion.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)77-86
Lapu skaits10
ŽurnālsFerroelectrics
Sējums508
Izdevuma numurs1
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 17 febr. 2017
Ārēji publicēts

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Characterization of domain structure and domain wall kinetics in lead-free Sr2+ doped K0.5Na0.5NbO3 piezoelectric ceramics by piezoresponse force microscopy”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo