Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Effect of electron correlation corrections on phase competition in Ag film on MgO substrate

  • David Fuks*
  • , Simon Dorfman
  • , Yuri F. Zhukovskii
  • , Eugene A. Kotomin
  • , A. Marshall Stoneham
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Ben-Gurion University of the Negev
  • Technion-Israel Institute of Technology
  • Northwestern University
  • University of Latvia
  • University College London
  • Max Planck Institute for Solid State Research

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

5 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

The effect of electron correlation corrections in the novel theory predicting the growth mode of a thin metallic film on an insulating substrate has been studied. We discuss the influence of the substrate slab thickness on the energies of formation for several two-dimensional phases, which, in principle, may form in Ag layer on (0 0 1) MgO substrate. We analyze also the sensitivity of the key energy parameter - Fourier transform of the mixing potential V(0) to the choice of correlation functionals.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)66-71
Lapu skaits6
ŽurnālsComputational Materials Science
Sējums24
Izdevuma numurs1-2
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - maijs 2002

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Effect of electron correlation corrections on phase competition in Ag film on MgO substrate”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo