Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: The case of ReO 3

  • Juris Purans*
  • , Giuseppe Dalba
  • , Paolo Fornasini
  • , Alexei Kuzmin
  • , Simone De Panfilis
  • , Francesco Rocca
  • *Šī darba korespondējošais autors

Pētījuma izpildes rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumāKonferences zinātniskais rakstsPētniecībakoleģiāli recenzēts

12 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

EXAFS has been measured on ReO3 from 30 to 600 K; XRD has been contemporarily measured above 300 K. In this way, it has been possible to compare the expansion of the lattice parameter (XRD) and of the bond lengths (EXAFS), measured at the same time. EXAFS was interpreted by the cumulant approach, using ReO3 measured at low temperature as reference. According to our results, ReO3 shows a complicated behavior of thermal expansion: (i) ultra low or negative expansion below 100 K, (ii) moderate positive expansion above 150 K up to 500 K, (iii) negative expansion from 500K. up to the decomposition temperature. The EXAFS parallel and perpendicular MSRD (mean square relative displacements) have been calculated for the 1st and 4th shells. An unexpected result is that the perpendicular MSRD of the first coordination shell has a weak temperature dependence.

OriģinālvalodaAngļu
Rīkotāja publikācijas nosaukumsX-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE - XAFS13
Rīkotāja publikācijas apakšnosaukums13th International Conference
Lapas422-424
Lapu skaits3
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 2007
PasākumsX-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE - XAFS13: 13th International Conference - Stanford, CA, Amerikas Savienotās Valstis
Ilgums: 9 jūl. 200614 jūl. 2006

Publikāciju sērijas

NosaukumsAIP Conference Proceedings
Sējums882
ISSN (Drukātā versija)0094-243X
ISSN (Elektroniskā versija)1551-7616

Konference

KonferenceX-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE - XAFS13: 13th International Conference
Valsts/TeritorijaAmerikas Savienotās Valstis
PilsētaStanford, CA
Periods9/07/0614/07/06

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: The case of ReO 3”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo