Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Excess tunneling currents in p-Si-n-3C-SiC heterostructures

  • S. Zh Karazhanov*
  • , I. G. Atabaev
  • , T. M. Saliev
  • , É V. Kanaki
  • , E. Dzhaksimov
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Academy of Sciences of the Republic of Uzbekistan

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

6 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

An attempt is made to interpret the current-voltage characteristic of a p-Si-n-3C-SiC heterostructure in terms of the excess-tunneling mechanism. The space charge region width W and tunneling length λ are estimated. It is shown that W ≫ λ and, despite this, that the current transport through the heterostructure obeys the tunneling mechanism. The characteristic tunneling energy ε = 57 meV, temperature coefficient of the saturation current, and the barrier thinness factor are found.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)77-79
Lapu skaits3
ŽurnālsSemiconductors
Sējums35
Izdevuma numurs1
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - janv. 2001
Ārēji publicēts

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Excess tunneling currents in p-Si-n-3C-SiC heterostructures”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo