Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Growth, crystal structure and stability of Ag-Ni/Cu films

  • I. K. Bdikin*
  • , G. K. Strukova
  • , G. V. Strukov
  • , V. V. Kedrov
  • , D. V. Matveev
  • , S. A. Zver'kov
  • , A. L. Kholkin
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Institute of Solid State Physics
  • University of Aveiro

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumāKonferences zinātniskais rakstsPētniecībakoleģiāli recenzēts

6 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

AgxNi1-x (x=0.0-1.0) films were grown on Cu substrates by electrodeposition method. The films were found to be a nanocrystalline mixture of pure silver and nickel. The grain sizes were determined by X-ray diffraction and electron microscopy techniques. The minimal value was 3.3 nm for the alloy with 70 wt% concentration of Ni. The stability of the grown films upon heating in air and in vacuum was examined. An increase in the grain size was found to begin at 150°C.

OriģinālvalodaAngļu
Rīkotāja publikācijas nosaukumsFast Software Encryption - 14th International Workshop, FSE 2007, Revised Selected Papers
IzdevējsTrans Tech Publications Ltd
Lapas1166-1170
Lapu skaits5
IzdevumsPART 2
ISBN (Drukātā versija)9780878494026
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 2006
Ārēji publicēts
Pasākums3rd International Materials Symposium and 12th Portuguese Materials Society Meeting 2005 - Aveiro, Portugāle
Ilgums: 20 marts 200523 marts 2005

Publikāciju sērijas

NosaukumsMaterials Science Forum
NumursPART 2
Sējums514-516
ISSN (Drukātā versija)0255-5476
ISSN (Elektroniskā versija)1662-9752

Konference

Konference3rd International Materials Symposium and 12th Portuguese Materials Society Meeting 2005
Valsts/TeritorijaPortugāle
PilsētaAveiro
Periods20/03/0523/03/05

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Growth, crystal structure and stability of Ag-Ni/Cu films”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo