Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Passivating Oxide Layers on the Surface of InP

  • Yana Suchikova
  • , Sergii Kovachov
  • , Zhakyp Karipbaev
  • , Yaroslav Zhydachevskyy
  • , Ihor Bohdanov
  • , Anatolijs Popovs
  • Berdyansk State Pedagogical University
  • L.N. Gumilyov Eurasian National University

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumāKonferences zinātniskais rakstsPētniecībakoleģiāli recenzēts

1 Atsauce (Scopus)

Kopsavilkums

This study investigates the formation and characteristics of intrinsic oxide layers on the surface of n-type indium phosphide (InP), formed via electrochemical processing in a sulfuric acid environment. We have explored the oxide film's structure, chemical composition, and electronic properties using various analytical methods. The results indicate the formation of composite oxides with crackled morphologies and their impact on surface passivation. Our findings affirm the potential of InP native oxides for protective coatings yet highlight the need for further optimization to improve the uniformity and reduce the defectiveness of passivation layers.

OriģinālvalodaAngļu
Rīkotāja publikācijas nosaukums2024 IEEE 42nd International Conference on Electronics and Nanotechnology, ELNANO 2024 - Proceedings
Lapas223-226
Lapu skaits4
ISBN (Elektroniski)9798350368178
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 2024

Publikāciju sērijas

NosaukumsProceedings - IEEE International Conference on Electronics and Nanotechnology, ELNANO
ISSN (Drukātā versija)2377-6935
ISSN (Elektroniskā versija)2693-3535

OECD Zinātnes nozare

  • 1.3 Fizika un astronomija

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Passivating Oxide Layers on the Surface of InP”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo