Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin films

  • M. Melo
  • , E. B. Araujo*
  • , E. A. Neradovskaya
  • , A. P. Turygin
  • , A. A. Esin
  • , V. Ya Shur
  • , A. L. Kholkin
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho
  • Ural Federal University
  • University of Aveiro

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

Kopsavilkums

La-modified lead zirconate titanate (PLZT) thin films were prepared to study their physical properties at macro- and nanoscale. Piezoresponse force microscopy (PFM) studies suggest a local imprint behavior at room temperature. Confirmed by P-E hysteresis loops recorded at 180-300 K, the imprint effect at room temperature tends to disappear at lower temperatures. In addition, the remanent polarization gradually increases and then decreases after reaching a maximum at around 243 K. This behavior suggests the occurrence of a reentrant dipole glass or an activated electric field effect in the studied PLZT films.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)1-9
Lapu skaits9
ŽurnālsFerroelectrics
Sējums509
Izdevuma numurs1
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - 12 marts 2017
Ārēji publicēts

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin films”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo