Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Pyroelectric and piezoelectric hysteresis loops in thin PZT films with excess lead oxide

  • Alexey A. Bogomolov*
  • , O. N. Sergeeva
  • , I. P. Pronin
  • , E. Yu Kaptelov
  • , D. A. Kiselev
  • , A. L. Kholkin
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • Tver State University
  • Ioffe Physico-Technical Institute
  • University of Aveiro

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

2 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

Comparative analysis of pyroelectric and piezoelectric hysteresis loops of thin PbZr0.54Ti0.46O3 + 10 mol % PbO films formed under the same conditions on pyroceram and silicon substrates has been performed. The significant differences in the behavior of the parameters under study are attributed to the different character of the biaxial stress acting on a ferroelectric film from pyroceram and silicon substrates.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)1386-1387
Lapu skaits2
ŽurnālsBulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
Sējums71
Izdevuma numurs10
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - okt. 2007
Ārēji publicēts

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Pyroelectric and piezoelectric hysteresis loops in thin PZT films with excess lead oxide”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo