Signs of agile trends in global software engineering research : a tertiary study

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumā › Konferences zinātniskais raksts › Pētniecība › koleģiāli recenzēts

68 Atsauces (Scopus)

Oriģinālvaloda	Angļu
Rīkotāja publikācijas nosaukums	Sixth IEEE International Conference on Global Software Engineering Workshop (ICGSEW 2011), Helsinki, Finland, August 15-18, 2011.
Publikācijas vieta	[S.l.]
Izdevējs	IEEE
Lapas	17-23
ISBN (Drukātā versija)	9781457718397
DOIs	https://doi.org/10.1109/ICGSE-W.2011.12
Publikācijas statuss	Publicēts - 2011

Piekļuve Dokumentiem

@inproceedings{5beef632ea1347dda5fc11ca7317e776,

title = "Signs of agile trends in global software engineering research : a tertiary study",

author = "Darja {\v S}mite and G.K. Hanssen and N.B. Moe",

year = "2011",

doi = "10.1109/ICGSE-W.2011.12",

language = "English",

isbn = "9781457718397",

pages = "17--23",

booktitle = "Sixth IEEE International Conference on Global Software Engineering Workshop (ICGSEW 2011), Helsinki, Finland, August 15-18, 2011.",

publisher = "IEEE",

}

Signs of agile trends in global software engineering research : a tertiary study. / Šmite, Darja; Hanssen, G.K.; Moe, N.B.
Sixth IEEE International Conference on Global Software Engineering Workshop (ICGSEW 2011), Helsinki, Finland, August 15-18, 2011.. [S.l.]: IEEE, 2011. lpp. 17-23.

Zinātniskās darbības rezultāts: Nodaļa grāmatā/enciklopēdijā/konferences krājumā › Konferences zinātniskais raksts › Pētniecība › koleģiāli recenzēts

TY - GEN

T1 - Signs of agile trends in global software engineering research : a tertiary study

AU - Šmite, Darja

AU - Hanssen, G.K.

AU - Moe, N.B.

PY - 2011

Y1 - 2011

UR - http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6065571

U2 - 10.1109/ICGSE-W.2011.12

DO - 10.1109/ICGSE-W.2011.12

M3 - Conference paper

SN - 9781457718397

SP - 17

EP - 23

BT - Sixth IEEE International Conference on Global Software Engineering Workshop (ICGSEW 2011), Helsinki, Finland, August 15-18, 2011.

PB - IEEE

CY - [S.l.]

ER -