Kopsavilkums
Multilayers of titanium oxide on conductive glasses (silica, covered with indium/tin and tin oxides) were obtained by different methods (from suspension, by sol-gel, by vacuum sputtering). X-ray diffraction and positron annihilation depth-resolved characterization of these samples are presented. The data allow us to determine optimal deposition parameters, in order to obtain the anatase phase, important in practical applications in photoelectrochemical cells.
| Oriģinālvaloda | Angļu |
|---|---|
| Lapas (no-līdz) | 977-982 |
| Lapu skaits | 6 |
| Žurnāls | Acta Physica Polonica A |
| Sējums | 107 |
| Izdevuma numurs | 6 |
| DOIs | |
| Publikācijas statuss | Publicēts - jūn. 2005 |
ANO IAM
Šis izpildes rezultāts palīdz sasniegt šādus ANO ilgtspējīgas attīstības mērķus (IAM)
-
7. IAM — Tīra Enerģija par Pieejamu Cenu
Nospiedums
Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Structural studies of titanium oxide multilayers”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.Citēt šo
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver