Pāriet uz galveno navigāciju Pāriet uz meklēšanu Pāriet uz galveno saturu

Structural studies of titanium oxide multilayers

  • G. P. Karwasz*
  • , A. Miotello
  • , E. Zomer
  • , R. S. Brusa
  • , B. Kościelska
  • , C. Armellini
  • , A. Kuzmin
  • *Šī darba korespondējošais autors
  • University of Trento
  • Gdańsk University of Technology
  • National Research Council of Italy

Zinātniskās darbības rezultāts: Devums žurnālamZinātniskais raksts (žurnālā)koleģiāli recenzēts

4 Atsauces (Scopus)

Kopsavilkums

Multilayers of titanium oxide on conductive glasses (silica, covered with indium/tin and tin oxides) were obtained by different methods (from suspension, by sol-gel, by vacuum sputtering). X-ray diffraction and positron annihilation depth-resolved characterization of these samples are presented. The data allow us to determine optimal deposition parameters, in order to obtain the anatase phase, important in practical applications in photoelectrochemical cells.

OriģinālvalodaAngļu
Lapas (no-līdz)977-982
Lapu skaits6
ŽurnālsActa Physica Polonica A
Sējums107
Izdevuma numurs6
DOIs
Publikācijas statussPublicēts - jūn. 2005

ANO IAM

Šis izpildes rezultāts palīdz sasniegt šādus ANO ilgtspējīgas attīstības mērķus (IAM)

  1. 7. IAM — Tīra Enerģija par Pieejamu Cenu
    7. IAM — Tīra Enerģija par Pieejamu Cenu

Nospiedums

Uzziniet vairāk par pētniecības tēmām “Structural studies of titanium oxide multilayers”. Kopā tie veido unikālu nospiedumu.

Citēt šo